仕様

・モノクロX線光源（Al）、デュアルX線光源（Zr/Mg）
・アルゴンガスクラスターイオン銃（Ar-GCIB）
・SXI観察
・微量領域分析（10μm）
・真空紫外線光源（UPS）
・低エネルギー逆光電子分光法（LEIPS）
・反射電子エネルギー損失分光法（REELS）
・トランスファーベッセル
・加熱冷却ステージ
・4端子対応加熱冷却試料ホルダー

概要・性能

無機固体や高分子などのサンプル表面にX線を照射し、生じる光電子のエネルギーを測定することで、サンプルの構成元素とその電子状態を分析することが可能。UPS・LEIPS・REELS・GCIB・加熱冷却機構装備。モノクロ光での測定が可能。

利用料金

20,200円/時間
オプション
表面スパッタ 5,000円/時間
加熱冷却 　　5,000円/時間
UPS 　　　　5,000円/時間
SXI 　　　　5,000円/時間
LEIPS 　　　5,000円/時間
REELS 　　　5,000円/時間
解析評価を主体とした依頼分析は受託研究として受付させていただきます。

利用の注意事項

超高真空を要するため油脂成分、超高真空中で揮発する有機物、飛散性の高い粉体などを含むサンプルは分析不可

利用の申請書

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機器設置部局

奈良工業高等専門学校
物質化学工学科

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