仕様

シンチレーションカウンター(0次元)、高速1次元(D/teX Ultra 2)/2次元(PILATUS)X線検出器搭載

概要・性能

高速での高精度なXRD測定が可能です。加えて①粉末測定はもちろんのこと、②薄膜測定(反射率、インプレーン、ロッキングカーブ測定)、③極点・応力測定(反射極点、透過極点、応力測定)、④微小領域測定、⑤小角・超小角測定(透過小角測定、反射小角測定、粒径空孔径分布測定)、⑥昇温XRD測定(大気雰囲気、不活性ガス雰囲気、加湿水素ガス雰囲気)、⑦電池セルin-situ測定など、多様な測定が可能となっております。

利用料金

13,000円/時間
粉末以外のオプション：5,000円/時間
解析評価を主体とした依頼分析は受託研究として受付させていただきます。

利用の注意事項

利用の申請書

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機器設置部局

奈良工業高等専門学校
物質化学工学科

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